%K Xlorfenoksi gerbitsidlar, 4-xlorofenoksisirka kislota, misli kompleks, rentgen strukturaviy analizi, DFT hisoblashlar, Xirshfeld yuzasi tahlili.
%D 2024
%R oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/6219
%T MISNING 4-XLORFENOKSISIRKA KISLOTA BILAN KOMPLEKSI SINTEZI VA TADQIQOTI
%A Bekmurod Xurramovich Alimnazarov
%A Jamshid Mengnorovich Ashurov
%A Alisher Gulumbaevich Yeshimbetov
%A Sharifova Lola Baxodirovna
%A Raimov Farhod
%A Ubaydullayeva Nasiba
%J Journal of Universal Science Research
%O Imported from Universal Publishings (OAI id oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/6219)
%L arxiv57182
%I "Research Science and Innovation house" LLC
%X 4-xlorofenoksisirka kislota va mis (II) sulfat asosida kompleks birikma [Cu(4-D)2(H2O)2] olindi. Kompleks rentgen strukturaviy analizi, kompleks tuzilishini maqbullashtirgan holda DFT hisoblashlari va Xirshfeld yuzasi tahlilini ham o‘tkazildi. Birikma tarkibidagi 4-D ning fenoksi guruhidagi kislorod va markaziy atom mis orasidagi masofa farqi Yan-Tellar effekti bilan tushuntiriladi. Xirshfeld yuzasi tahlili barmoq izlari sohasi H···H ta’sirlarning yuza ta’sirlari orasida eng ko‘p hissa qo‘shishini ko‘rsatadi, bu esa kislorod atomlari dominantlik qiladigan molekulalar uchun kutilgan holatdir.